Microscopio
electrónico
La
potencia amplificadora de un microscopio óptico
está limitada por la longitud de onda
de la luz visible. El microscopio electrónico
utiliza electrones para iluminar un objeto.
Dado que los electrones tienen una longitud
de onda mucho menor que la de la luz pueden
mostrar estructuras mucho más pequeñas.
Todos
los microscopios electrónicos cuentan
con varios elementos básicos. Disponen
de un cañón de electrones que
emite los electrones que chocan contra el espécimen,
creando una imagen aumentada. Se utilizan lentes
magnéticas para crear campos que dirigen
y enfocan el haz de electrones, ya que las lentes
convencionales utilizadas en los microscopios
ópticos no funcionan con los electrones.
El sistema de vacío es una parte relevante
del microscopio electrónico. Los electrones
pueden ser desviados por las moléculas
del aire, de forma que tiene que hacerse un
vacío casi total en el interior de un
microscopio de estas características.
Por último, todos los microscopios electrónicos
cuentan con un sistema que registra o muestra
la imagen que producen los electrones.
Hay
dos tipos básicos de microscopios electrónicos:
el microscopio electrónico de transmisión
(Transmission Electron Microscope, TEM) y el
microscopio electrónico de barrido (Scanning
Electron Microscope, SEM).
Microscopio
electrónico de transmisión (MET):
Permite la observación de muestra en
cortes ultrafinos. Un TEM dirige el haz de electrones
hacia el objeto que se desea aumentar. Una parte
de los electrones rebotan o son absorbidos por
el objeto y otros lo atraviesan formando una
imagen aumentada del espécimen. Para
utilizar un TEM debe cortarse la muestra en
capas finas, no mayores de un par de miles de
ángstroms. Se coloca una placa fotográfica
o una pantalla fluorescente detrás del
objeto para registrar la imagen aumentada. Los
microscopios electrónicos de transmisión
pueden aumentar un objeto hasta un millón
de veces.
Microscopio
electrónico de barrido (MEB): Crea una
imagen ampliada de la superficie de un objeto.
No es necesario cortar el objeto en capas para
observarlo con un SEM, sino que puede colocarse
en el microscopio con muy pocos preparativos.
El SEM explora la superficie de la imagen punto
por punto, al contrario que el TEM, que examina
una gran parte de la muestra cada vez. Su funcionamiento
se basa en recorrer la muestra con un haz muy
concentrado de electrones, de forma parecida
al barrido de un haz de electrones por la pantalla
de una televisión. Los electrones del
haz pueden dispersarse de la muestra o provocar
la aparición de electrones secundarios.
Los electrones perdidos y los secundarios son
recogidos y contados por un dispositivo electrónico
situado a los lados del espécimen. Cada
punto leído de la muestra corresponde
a un píxel en un monitor de televisión.
Cuanto mayor sea el número de electrones
contados por el dispositivo, mayor será
el brillo del píxel en la pantalla. A
medida que el haz de electrones barre la muestra,
se presenta toda la imagen de la misma en el
monitor. Los microscopios electrónicos
de barrido pueden ampliar los objetos 200.000
veces o más. Este tipo de microscopio
es muy útil porque, al contrario que
los TEM o los microscopios ópticos, produce
imágenes tridimensionales realistas de
la superficie del objeto. |
